发明名称 |
薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板和显示装置 |
摘要 |
本发明提供一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板和显示装置。该薄膜晶体管的制备方法包括在衬底基板上形成栅极、栅绝缘层、有源区、源极和漏极,有源区采用ZnON材料形成,在形成有源区的同时对有源区进行氮离子注入,以使薄膜晶体管的亚阈值摆幅≤0.5mV/dec。该制备方法通过在形成有源区的同时对有源区进行氮离子注入,使有源区中处于有效导电位置的氮离子浓度大大提高,由此使得薄膜晶体管工作时,有源区因为扩散效应而损失的氮元素能够得到足够的补充,从而大大提高了有源区中氮空位的迁移率,也即大大提高了有源区中载流子的迁移率,进而降低了薄膜晶体管的亚阈值摆幅,提升了薄膜晶体管的半导体特性。 |
申请公布号 |
CN104167448A |
申请公布日期 |
2014.11.26 |
申请号 |
CN201410381242.X |
申请日期 |
2014.08.05 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司 |
发明人 |
姜春生;辛龙宝 |
分类号 |
H01L29/786(2006.01)I;H01L21/425(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/786(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 |
代理人 |
彭瑞欣;陈源 |
主权项 |
一种薄膜晶体管的制备方法,包括在衬底基板上形成栅极、栅绝缘层、有源区、源极和漏极,所述有源区采用ZnON材料形成,其特征在于,在形成所述有源区的同时对所述有源区进行氮离子注入,以使所述薄膜晶体管的亚阈值摆幅≤0.5mV/dec。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |