发明名称 薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板和显示装置
摘要 本发明提供一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板和显示装置。该薄膜晶体管的制备方法包括在衬底基板上形成栅极、栅绝缘层、有源区、源极和漏极,有源区采用ZnON材料形成,在形成有源区的同时对有源区进行氮离子注入,以使薄膜晶体管的亚阈值摆幅≤0.5mV/dec。该制备方法通过在形成有源区的同时对有源区进行氮离子注入,使有源区中处于有效导电位置的氮离子浓度大大提高,由此使得薄膜晶体管工作时,有源区因为扩散效应而损失的氮元素能够得到足够的补充,从而大大提高了有源区中氮空位的迁移率,也即大大提高了有源区中载流子的迁移率,进而降低了薄膜晶体管的亚阈值摆幅,提升了薄膜晶体管的半导体特性。
申请公布号 CN104167448A 申请公布日期 2014.11.26
申请号 CN201410381242.X 申请日期 2014.08.05
申请人 京东方科技集团股份有限公司 发明人 姜春生;辛龙宝
分类号 H01L29/786(2006.01)I;H01L21/425(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I 主分类号 H01L29/786(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人 彭瑞欣;陈源
主权项 一种薄膜晶体管的制备方法,包括在衬底基板上形成栅极、栅绝缘层、有源区、源极和漏极,所述有源区采用ZnON材料形成,其特征在于,在形成所述有源区的同时对所述有源区进行氮离子注入,以使所述薄膜晶体管的亚阈值摆幅≤0.5mV/dec。
地址 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
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