发明名称 一种平面显示器面板均匀度检测方法及其系统
摘要 一种平面显示器面板均匀度检测方法及其系统,该检测方法包含下列步骤:一画面产生单元依据一控制指令产生用于显示在一待测面板的一待测画面;一取像单元拍摄该待测面板所显示的该待测画面,以产生一包括多个检测区及多个对照区的检测画面;一处理单元分别从该检测画面的每一检测区中侦测出一最小像素值,及从该检测画面的其中一对照区中选定一像素并以其像素值作为一像素基准值;以及一检测单元在该检测画面中检测是否至少存有一最小像素值小于该像素基准值,若是,则该检测单元判定该待测面板为一亮度不均匀的面板。
申请公布号 CN104166250A 申请公布日期 2014.11.26
申请号 CN201310186009.1 申请日期 2013.05.20
申请人 冠捷投资有限公司 发明人 王永吉;苏泰源;张裕昇
分类号 G02F1/13(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G02F1/13(2006.01)I
代理机构 北京泰吉知识产权代理有限公司 11355 代理人 张雅军
主权项 一种平面显示器面板均匀度检测方法,实现于一面板均匀度检测系统,该均匀度检测系统包括一画面产生单元、至少一待测面板、一取像单元、一处理单元及一检测单元,其特征在于,该均匀度检测方法包含下列步骤:(A)该画面产生单元依据一控制指令产生用于显示在该待测面板的一待测画面,其中,该待测画面包括多个待测区及多个对照区,且每一待测区具有多个第一像素,每一对照区具有多个第二像素,所述第一像素的像素值均大于所述第二像素的像素值;(B)该取像单元拍摄该待测面板所显示的该待测画面,以产生一检测画面,其中,该检测画面包括多个检测区及多个对照区,且该检测画面中每一检测区为对应于该待测画面中相同位置的待测区,该检测画面中每一对照区为对应于该待测画面中相同位置的对照区;(C)该处理单元分别从该检测画面的每一检测区中侦测出一最小像素值,及从该检测画面的其中一对照区中选定一像素并以其像素值作为一像素基准值;以及(D)该检测单元在该检测画面中检测是否至少存有一最小像素值小于该像素基准值,若是,则该检测单元判定该待测面板为一亮度不均匀的面板。
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