一种可实现内存局部加热进行高温控制测试的方法

摘要

本发明公开了一种可实现内存局部加热进行高温控制测试的方法，计算机技术领域，该方法步骤如下：将带有抽风风扇和柔性加热片的保温盖卡接在主板上，通过保温盖覆盖主板上的内存插槽，保温盖的内壁上侧安装温度传感器，温度传感器对保温盖内的温度实时监控，当保温盖内的温度小于85℃时，柔性加热片导通对保温盖内进行增温，同时抽风风扇断开；当保温盖内的温度大于85℃时，抽风风扇导通对保温盖内进行降温，同时柔性加热片断开；控制保温盖内的温度，达到高温测试的目的。本发明具有设计合理、操作简单方便等特点，不需要使用高低温箱等大型设备，方便进行内存的加热和温控，达到对内存温度控制和调节的作用。

主权项

一种可实现内存局部加热进行高温控制测试的方法，其特征在于，该方法步骤如下：将带有抽风风扇和柔性加热片的保温盖卡接在主板上，通过保温盖覆盖主板上的内存插槽，保温盖的内壁上侧安装温度传感器，温度传感器对保温盖内的温度实时监控，当保温盖内的温度小于85 ℃时，柔性加热片导通对保温盖内进行增温，同时抽风风扇断开；当保温盖内的温度大于85 ℃时，抽风风扇导通对保温盖内进行降温，同时柔性加热片断开；控制保温盖内的温度，达到高温测试的目的。