发明名称 | 质谱中校正的质量分析物值 | ||
摘要 | 在此描述一种用于确定一种分析物的质荷比的方法,该方法考虑到当在一个离子阱中存在相对高浓度的离子时的多种空间电荷限制。该方法包括针对由该分析物离子本身以及与该分析物离子具有不同质荷比的相邻离子引起的空间电荷效应来校准质谱仪。可以在该离子阱中存在相对高浓度的离子情况下测量一种分析物离子和一种相邻离子两者的质谱。可以基于该测量的分析物质荷比、该测量的分析物丰度、该第一质荷比差以及该测量的第一相邻离子丰度来计算一种分析物离子的校正的质荷比。所得校正的质荷比具有增大的准确性并且同时改进该离子阱质量分析器的动态范围。 | ||
申请公布号 | CN104160472A | 申请公布日期 | 2014.11.19 |
申请号 | CN201380012943.X | 申请日期 | 2013.03.08 |
申请人 | 萨默费尼根有限公司 | 发明人 | P·M·雷米斯 |
分类号 | H01J49/00(2006.01)I | 主分类号 | H01J49/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 姬利永 |
主权项 | 一种确定样品中分析物的质荷比的方法,该方法包括:a)获得一个质谱,其中在存在一种第一相邻离子情况下测量该分析物的质荷比,该第一相邻离子包括所具有的质荷比与该分析物的质荷比不同的离子,该质谱包括:i)测量的分析物质荷比、ii)测量的第一相邻离子质荷比、iii)测量的分析物丰度、以及iv)测量的第一相邻离子丰度,b)通过从该测量的分析物质荷比减去该测量的第一相邻离子质荷比来确定一个第一质荷比差;并且c)基于i)该测量的分析物质荷比、ii)该测量的分析物丰度、iii)该第一质荷比差、以及iv)该测量的第一相邻离子丰度来计算一个校正的分析物质荷比。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |