发明名称 蚀刻液组合物以及蚀刻方法
摘要 本发明的目的在于提供下述蚀刻液组合物和蚀刻方法,其在对包括氧化铟系膜和金属系膜的层叠膜一并进行蚀刻时,在氧化铟系膜和金属系膜之间不会产生大的台阶,包含氧化铟系膜和金属系膜的细线的宽度较小,此外,可以直线性良好地进行蚀刻。本发明蚀刻液组合物的特征在于包含:高铁离子成分、氯化氢成分、以及选自下述通式(1)表示的化合物和碳数1~4的直链或支链状醇中的至少1种以上的化合物成分(式(1)中,R<sup>1</sup>、R<sup>3</sup>各自独立地表示氢或碳数1~4的直链或支链状烷基,R<sup>2</sup>表示碳数1~4的直链或支链状亚烷基,n表示1~3的数)。<img file="DDA0000560369580000011.GIF" wi="937" he="163" />
申请公布号 CN104160486A 申请公布日期 2014.11.19
申请号 CN201280070725.7 申请日期 2012.12.25
申请人 株式会社ADEKA 发明人 田口雄太;齐藤康太
分类号 H01L21/308(2006.01)I;C23F1/16(2006.01)I 主分类号 H01L21/308(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 吴宗颐
主权项 蚀刻液组合物,其用于对包括氧化铟系膜和金属系膜的层叠膜一并进行蚀刻,其由包含以下物质的水溶液形成,(A)高铁离子成分、(B)氯化氢成分、和(C)选自下述通式(1)表示的化合物和碳数1~4的直链或支链状醇的至少1种以上的化合物成分,<img file="FDA0000560369550000011.GIF" wi="942" he="175" />式(1)中,R<sup>1</sup>、R<sup>3</sup>各自独立地表示氢或碳数1~4的直链或支链状烷基,R<sup>2</sup>表示碳数1~4的直链或支链状亚烷基,n表示1~3的数。
地址 日本东京