| 发明名称 | 信号质量测量设备及其方法 | ||
| 摘要 | 一种信号质量测量设备包括：二进制信号产生单元，从输入信号产生二进制信号；电平信息提取单元，使用至少两个窗长度从输入信号和二进制信号之间的关系提取电平信息；质量计算单元，基于所述电平信息计算输入信号的质量。 | ||
| 申请公布号 | CN102356590B | 申请公布日期 | 2014.11.19 |
| 申请号 | CN201080012455.5 | 申请日期 | 2010.03.16 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 朴贤洙;李坰根;黄仁吾;赵辉;辛钟玄 |
| 分类号 | H04L1/20(2006.01)I | 主分类号 | H04L1/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人 | 韩明星;王兆赓 |
| 主权项 | 一种信号质量测量设备，包括：二进制信号产生单元，从输入信号产生二进制信号；电平信息提取单元，根据信道特性设置至少两个窗长度，使用所述至少两个窗长度从输入信号和二进制信号之间的关系提取电平信息；质量计算单元，基于所述电平信息计算输入信号的质量，其中，根据输入信号的最大游程和最小游程确定所述至少两个窗长度，其中，电平信息提取单元包括与所述至少两个窗长度相应的子电平信息提取单元。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||