发明名称 | 基于光电式两轴准直仪的转台分度误差检测方法 | ||
摘要 | 本发明公开了基于光电式两轴准直仪的转台分度误差检测方法,它包括以下步骤:(1)将多齿分度台安装在被检转台工作面的中心,平面反射镜固定在多齿分度台上,利用自准直仪瞄准平面反射镜;(2)将被检转台回转一周使双轴光电自准直仪两轴均有读数;(3)将被检转台置零位,读取双轴光电自准直仪的初始值,然后,将多齿分度台及反射镜随被检转台一起转动φ角度;(4)将反射镜随多齿分度台向相反的方向回转-φ角度后,光电自准直仪再次瞄准反射镜并读取测量值,直至整周;(5)改变多齿分度台相对于转台的倾斜角,同时保持双轴光电自准直仪不动,重复步骤2至4进行第二次检测,读取双轴光电自准直仪的测量值;采用本方法降低了对调整的要求。 | ||
申请公布号 | CN102914260B | 申请公布日期 | 2014.11.19 |
申请号 | CN201210369699.X | 申请日期 | 2012.09.27 |
申请人 | 天津大学 | 发明人 | 郭敬滨;常青;曹红艳 |
分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I |
代理机构 | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人 | 王丽英 |
主权项 | 基于光电式两轴准直仪的转台分度误差检测方法,其特征在于它包括以下步骤:(1)将多齿分度台安装在被检转台工作面的中心,平面反射镜固定在多齿分度台上,利用双轴光电自准直仪瞄准平面反射镜;(2)将被检转台回转一周使双轴光电自准直仪两轴均有读数;(3)将被检转台置零位,读取双轴光电自准直仪的初始值,然后,将多齿分度台及反射镜随被检转台一起转动φ角度,所述的φ=360°/n,n为整数,且需满足φ是多齿分度台最小分度间隔的整数倍;(4)将反射镜随多齿分度台向相反的方向回转‑φ角度后,双轴光电自准直仪再次瞄准反射镜并读取测量值,如此顺序对被检转台各被检角度进行测量,直至整周;(5)改变多齿分度台相对于转台的倾斜角,同时保持双轴光电自准直仪不动,重复步骤2至4进行第二次检测,读取双轴光电自准直仪的测量值;(6)根据公式计算被测转台各分度处的分度误差为x<sub>i</sub>=(y'<sub>i1</sub>x'<sub>i</sub>‑y'<sub>i</sub>x'<sub>i1</sub>)/(y'<sub>i1</sub>‑y'<sub>i</sub>),式中x'<sub>i</sub>,y'<sub>i</sub>为双轴光电自准直仪第一次测量值,x'<sub>i1</sub>,y'<sub>i1</sub>为第二次测量值,所述的双轴光电自准直仪第一次测量值为步骤(4)中读取的测量值。 | ||
地址 | 300072 天津市南开区卫津路92号 |