| 发明名称 |
用于半导体晶片测试之插座及制造此插座之方法;SOCKET FOR SEMICONDUCTOR CHIP TEST AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME |
| 摘要 |
提供一种用于半导体晶片测试之插座以及制造此插座之方法。用于半导体晶片测试之该插座包括:一膜层;一半导体晶片测试端,该半导体晶片测试端设置于该膜层上并且连接至一半导体晶片的一端;以及一导电弹性接垫,该导电弹性接垫设置于该膜层上并且连接至该半导体晶片的一接地端。 |
| 申请公布号 |
TW201444205 |
申请公布日期 |
2014.11.16 |
| 申请号 |
TW103106101 |
申请日期 |
2014.02.24 |
| 申请人 |
申锺天 |
发明人 |
申锺天;河东镐 |
| 分类号 |
H01R33/74(2006.01);G01R31/26(2014.01);H01R43/00(2006.01) |
主分类号 |
H01R33/74(2006.01) |
| 代理机构 |
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代理人 |
<name>蔡坤财</name><name>李世章</name> |
| 主权项 |
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| 地址 |
南韩 |
