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发明名称
半导体装置及其制造方法
摘要
本发明提供一种半导体装置及其制造方法,提高半导体装置之可靠度。半导体装置,具备:晶片焊垫6;SiC晶片1,搭载于晶片焊垫6;第1烧结Ag层16,将晶片焊垫6与SiC晶片1接合;以及补强树脂部17,覆盖第1烧结Ag层16的表面,且形成为填角状。更具有:源极导线9,与SiC晶片1之源极电极2电性连接;闸极导线,与闸极电极3电性连接;汲极导线,与汲极电极4电性连接;以及密封体14,覆盖SiC晶片1、第1烧结Ag层16及晶片焊垫6的一部分;补强树脂部17,覆盖SiC晶片1之侧面1c的一部分。
申请公布号
TW201444031
申请公布日期
2014.11.16
申请号
TW103105920
申请日期
2014.02.21
申请人
瑞萨电子股份有限公司
发明人
梶原良一;中条卓也;新井克夫;谷藤雄一;冈浩伟;宝藏寺裕之
分类号
H01L23/12(2006.01);H01L23/488(2006.01)
主分类号
H01L23/12(2006.01)
代理机构
代理人
<name>周良谋</name><name>周良吉</name>
主权项
地址
日本
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