发明名称 |
采用温度控制之磁性自动测试设备(ATE)记忆体测试器器件及方法;MAGNETIC AUTOMATIC TEST EQUIPMENT (ATE) MEMORY TESTER DEVICE AND METHOD EMPLOYING TEMPERATURE CONTROL |
摘要 |
在一特定实施例中,一种方法包括在施加一磁场时控制一腔室内之一温度。将包括一记忆体阵列之一器件定位于该腔室内。该方法包括将一磁场施加至该记忆体阵列,且在该磁场被施加至该记忆体阵列期间于一目标温度下测试该记忆体阵列。 |
申请公布号 |
TW201444009 |
申请公布日期 |
2014.11.16 |
申请号 |
TW103108005 |
申请日期 |
2014.03.07 |
申请人 |
高通公司 |
发明人 |
李康和;徐玮南;鲁逍;康 森H |
分类号 |
H01L21/66(2006.01);G11C29/56(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>陈长文</name> |
主权项 |
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地址 |
美国 |