发明名称 |
lonenätzvorrichtung |
摘要 |
Die vorliegende Erfindung umfaßt eine Ionenätzvorrichtung, die bei einem einfachen Aufbau einen Bearbeitungsbereich mit hoher Genauigkeit festlegen kann. Dazu enthält die Ionenätzvorrichtung einen Probenhalter zum Halten einer Probe und eine Maske, die die Bestrahlung der Probe mit einem Ionenstrahl zum Teil einschränkt. Der Probenhalter weist eine erste Kontaktfläche, die mit der Endfläche der Probe auf der Durchgangsseite des Ionenstrahls in Kontakt steht, und eine zweite Kontaktfläche auf, die mit einer Endfläche der Maske derart in Kontakt steht, daß sich die Maske an einer Stelle befindet, die weiter vom Ionenstrahl weg ist als die erste Kontaktfläche. |
申请公布号 |
DE112013000665(T5) |
申请公布日期 |
2014.11.13 |
申请号 |
DE20131100665T |
申请日期 |
2013.02.18 |
申请人 |
HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION |
发明人 |
MUTO, HIROBUMI,;KAMINO, ATSUSHI,;TAKASU, HISAYUKI,;IWAYA, TORU, |
分类号 |
H01J37/20;G01N1/28;H01J37/30;H01L21/302 |
主分类号 |
H01J37/20 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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