发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur Dejustagekorrektur für Bildgebungsverfahren
摘要 <p>Verfahren zur Parameteroptimierung, bei dem–mittels eines Quelle-Detektor-Paars, bestehend aus einer Quelle und einem Detektor, welche für die Aufnahmen so einander zugeordnet sind, dass von der Quelle emittierte Strahlung von dem Detektor gemessen werden kann, entlang einer von dem Paar durchlaufenen Trajektorie eine Vielzahl von Aufnahmen eines Objektes gemacht werden,–eine im 3D Radonraum des Objektes bestehende Redundanzen verwendende Kostenfunktion gebildet wird, wobei a) eine Ebene verwendet wird, welche die von der Quelle durchlaufene Trajektorie an zwei Punkten schneidet, b) die Schnitte zwischen der Ebene und der Detektoroberfläche für die durch die Punkte gegebenen beiden Quellenpositionen bestimmt werden, und c) durch die Schnitte erhaltene Parameter (λ,μ, s) für die Bildung der Kostenfunktion verwendet werden,–mittels Suche nach einem Extremum der Kostenfunktion zumindest eine Korrekturinformationen für einen für die Aufnahmen relevanten Geometrieparameter ermittelt wird, und–diese Korrektur für eine Bildrekonstruktion aus der Vielzahl der Aufnahmen verwendet wird.</p>
申请公布号 DE102013200329(B4) 申请公布日期 2014.11.13
申请号 DE201310200329 申请日期 2013.01.11
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 DENNERLEIN, FRANK;MAASS, NICOLE
分类号 A61B6/03;A61B6/04;A61B19/00 主分类号 A61B6/03
代理机构 代理人
主权项
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