发明名称 检测触摸的方法和使用该方法检测触摸的设备
摘要 本发明涉及检测触摸的方法和使用该方法检测触摸的设备。该触摸检测设备包括:信号源,其被构造为生成包括参考相位信号和相对于参考相位信号异相的异相信号的可变相位信号;触摸面板,其包括多个驱动电极和多个感测电极,其中,如果该可变相位信号被施加至多个驱动电极中的一个,则感测电极输出利用可变相位信号调制的触摸信号;信号变换电路单元,其被构造为检测利用可变相位信号调制的触摸信号,并且以电压信号的形式输出该触摸信号;解调制电路单元,其被构造为使用可变相位信号解调制从信号变换电路单元输出的信号;和累加器,其被构造为累加地输出从解调制电路单元输出的信号。
申请公布号 CN104142770A 申请公布日期 2014.11.12
申请号 CN201410227577.6 申请日期 2014.04.23
申请人 安纳帕斯股份有限公司 发明人 李钟和;宋河宣;徐宇滢
分类号 G06F3/044(2006.01)I 主分类号 G06F3/044(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 吕俊刚;刘久亮
主权项 一种触摸检测设备,所述触摸检测设备包括:信号源,其被构造为生成包括参考相位信号和相对于所述参考相位信号异相的异相信号的可变相位信号;触摸面板,其包括多个驱动电极和多个感测电极,其中,所述可变相位信号被施加至所述多个驱动电极中的一个,并且所述感测电极输出通过所述可变相位信号调制的触摸信号;解调制电路单元,其被构造为使用所述可变相位信号解调制通过所述可变相位信号调制的所述触摸信号;和累加器,其被构造为累加经解调制的触摸信号以检测所述触摸。
地址 韩国首尔