导电触指检测方法及专用于实施该方法的检测工装

摘要

本发明涉及导电触指检测方法及专用于实施该方法的检测工装，设定一个定位基准面，被测导电触指的侧面对称分布于其两侧且使两个侧面的交线位于定位基准面上；配合放置具有基准凹槽的基准板，使基准凹槽的两个槽壁对称分布于定位基准面的两侧且使两个槽壁的交线位于定位基准面上，使两个槽壁与被测导电触指的侧面平行，使凸起的顶点位于定位基准面上并使凸起顶点到两个槽壁的交线之间的距离与被测导电触指的内圆弧面的半径相等，使凸起的顶点与被测导电触指的内圆弧面接触；检测被测导电触指的侧面与对应槽壁之间的间隙，当间隙为设定间隙时，则表示被测导电触指合格，否则不合格。本发明降低检测难度，检测精度高，结构简单、便于操作。

主权项

一种导电触指检测方法，其特征在于：包括以下步骤，1）设定存在一个定位基准面，所述定位基准面使被检测的导电触指的两个侧面对称分布于所述定位基准面的两侧，且被检测的导电触指的两个侧面的交线位于该定位基准面上； 2）配合放置一个具有两个槽壁的夹角与被检测的导电触指的两个侧面之间的夹角相等基准凹槽的基准板，使基准凹槽的两个槽壁对称分布于所述定位基准面的两侧且使两个槽壁的交线位于所述定位基准面上，使基准凹槽的两个槽壁与被检测的导电触指的对应侧面平行设置，使基准凹槽的槽底设置的凸起的顶点位于所述定位基准面上并使所述凸起的顶点到基准凹槽两个槽壁的交线之间的距离与被检测的导电触指的内圆弧面的半径相等，使基准凹槽的槽底的凸起的顶点与被检测导电触指的内圆弧面接触；3）检测被检测的导电触指的两个侧面与基准板的对应槽壁之间的间隙，当间隙为设定间隙时，则表示被检测的导电触指合格，否则被检测的导电触指不合格。