一种晶元裸视检测装置

摘要

本实用新型公开了一种晶元裸视检测装置，其设置于用于检测晶元的工作桌上，所述工作桌上设有一用于承载所述晶元的承载机构，所述晶元放置于所述承载机构上，该晶元裸视检测装置包括一内部黑暗的暗室和上照式的冷白色的LED光源，所述暗室架设于所述工作桌上，并将所述承载机构圈设于其中，所述暗室的一面开设有一容许检测人员检测的开口，所述LED光源设置于所述暗室内的上端部。本实用新型结构简单合理，通过暗室中的LED光源照射晶元，在晶元表面不平整的地方产生漫发射，可以提高裸视检出的能力；且因检测环境为黑色，光线不会在其表面发生反射，因而杜绝了反射光线对产品检测的影响。

主权项

一种晶元裸视检测装置，其设置于用于检测晶元的工作桌上，所述工作桌上设有一用于承载所述晶元的承载机构，所述晶元放置于所述承载机构上，其特征在于，该晶元裸视检测装置包括一内部黑暗的暗室和上照式的冷白色的LED光源，所述暗室架设于所述工作桌上，并将所述承载机构圈设于其中，所述暗室的一面开设有一容许检测人员检测的开口，所述LED光源设置于所述暗室内的上端部。