发明名称 高精度测试模组
摘要 本实用新型公开了一种高精度测试模组,旨在提供一种能避免对探针强度的依赖,降低对操作人员工作技能的要求及能很好地保证具有小测试点、小测试间距、大数量测试点的电子产品主板的测试的稳定性的高精度测试模组。本实用新型包括限位针板(1)、探针头部限位板(2)、第一增强板(3)、中部针板(4)、第二增强板(5)、探针尾部限位板(6)及下限位板(7),所述探针头部限位板(2)、所述第一增强板(3)、所述中部针板(4)、所述第二增强板(5)及所述探针尾部限位板(6)上均设有多个通孔Ⅰ,所述上限位针板(1)上设有多个通孔Ⅱ,所述下限位板(7)上设有多个通孔Ⅲ。本实用新型应用于自动化测试设备的技术领域。
申请公布号 CN203941196U 申请公布日期 2014.11.12
申请号 CN201420249001.5 申请日期 2014.05.15
申请人 珠海市运泰利自动化设备有限公司 发明人 卢国强
分类号 G01R1/073(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R1/073(2006.01)I
代理机构 广州市红荔专利代理有限公司 44214 代理人 王贤义
主权项 一种高精度测试模组,其特征在于:所述高精度测试模组包括由上至下依次固定设置的上限位针板(1)、探针头部限位板(2)、第一增强板(3)、中部针板(4)、第二增强板(5)、探针尾部限位板(6)及下限位板(7),所述探针头部限位板(2)、所述第一增强板(3)、所述中部针板(4)、所述第二增强板(5)及所述探针尾部限位板(6)上均设有多个与探针主体(8)间隙配合的通孔Ⅰ,所述上限位针板(1)上设有多个与探针头(9)间隙配合的通孔Ⅱ,所述下限位板(7)上设有多个与探针尾(10)间隙配合的通孔Ⅲ,所述通孔Ⅱ和所述通孔Ⅲ的孔径均小于所述通孔Ⅰ的孔径。
地址 519180 广东省珠海市市斗门区新青科技工业园内B型厂房