发明名称 表面处理铜箔及使用其之积层板
摘要 本发明提供一种与树脂良好地接着,且隔着树脂进行观察时实现优异之视认性之表面处理铜箔及使用其之积层板。本发明之表面处理铜箔系于至少一表面经过表面处理,且经过表面处理之表面之基于JIS Z8730之色差△E*ab为40以上者,且使贴合于铜箔前之下述△B(PI)为50以上且65以下之聚醯亚胺自经过表面处理之表面侧积层于铜箔后,利用CCD摄影机,隔着聚醯亚胺对铜箔进行拍摄时,于针对藉由拍摄获得之图像,沿着与所观察之铜箔延伸之方向垂直之方向,对每个观察地点之亮度进行测定而制作之观察地点-亮度曲线中,自铜箔之端部至无铜箔之部分所产生之亮度曲线之顶部平均值Bt与底部平均值Bb的差△B(△B=Bt-Bb)成为40以上。
申请公布号 TWI460070 申请公布日期 2014.11.11
申请号 TW102141156 申请日期 2013.11.11
申请人 JX日鑛日石金属股份有限公司 日本 发明人 新井英太;三木敦史;新井康修;中室嘉一郎
分类号 B32B15/088;C25D5/10;H05K3/38 主分类号 B32B15/088
代理机构 代理人 阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼;林景郁 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项 一种表面处理铜箔,其系于至少一表面经过表面处理,且上述经过表面处理之表面之基于JIS Z8730之色差△E*ab为40以上者,于贴合于铜箔前之下述△B(PI)为50以上且65以下之聚醯亚胺自经过表面处理之表面侧积层于上述铜箔后,利用CCD摄影机,隔着上述聚醯亚胺对上述铜箔进行拍摄时,于针对藉由上述拍摄获得之图像,沿着与所观察之上述铜箔延伸之方向垂直之方向,对每个观察地点之亮度进行测定而制作之观察地点-亮度曲线中,自上述铜箔之端部至无上述铜箔之部分所产生之亮度曲线之顶部平均值Bt与底部平均值Bb的差△B(△B=Bt-Bb)成为40以上。
地址 日本