发明名称 过电压保护测试装置
摘要 一种过电压保护测试装置,系用于测试一电源供应装置的过电压保护功能。该过电压保护测试装置主要包含一电压提升与储存单元及一能量释放单元。该电压提升与储存单元系用以提升该电源供应装置所输出之一原始输出电压成为一测试电压;因此,不需要额外的测试电压源以测试该电源供应装置的过电压保护功能。再者,当结束测试该电源供应装置的过电压保护功能时,多余的能量可由该能量释放单元释放;因此,能量释放较相关技术更快。
申请公布号 TWI460454 申请公布日期 2014.11.11
申请号 TW102107052 申请日期 2013.02.27
申请人 群光电能科技股份有限公司 新北市五股区五股工业区五工六路25号 发明人 黄志清;黄贞翔;黄文楠;李淑惠
分类号 G01R31/40 主分类号 G01R31/40
代理机构 代理人 谢佩玲 台北市大安区罗斯福路2段107号12楼;王耀华 台北市大安区罗斯福路2段107号12楼
主权项 一种过电压保护测试装置,系应用于一电源供应装置,该电源供应装置电性连接至该过电压保护测试装置,该过电压保护测试装置包含:一测试接点,该测试接点电性连接至该电源供应装置;一电压侦测单元,该电压侦测单元电性连接至该测试接点;一能量释放单元,该能量释放单元电性连接至该测试接点;一开关单元,该开关单元电性连接至该测试接点;一电压提升与储存单元,该电压提升与储存单元电性连接至该测试接点及该开关单元;及一微处理器,该微处理器电性连接至该电压侦测单元、该能量释放单元、该开关单元及该电压提升与储存单元,其中该电源供应装置输出一原始输出电压至该测试接点;该电压侦测单元侦测该原始输出电压并通知该微处理器;该微处理器纪录该原始输出电压之电压值;该电压提升与储存单元提升该原始输出电压成为一测试电压并储存该测试电压;该微处理器控制该能量释放单元及该开关单元;当该开关单元导通时,该能量释放单元不导通,且该电源供应装置接收该测试电压,藉以测试该电源供应装置之过电压保护功能;该电压侦测单元侦测该测试接点之电压并通知该微处理器;当纪录于该微处理器之该原始输出电压之电压值减去该测试接点之电压值大于一预设值时,该微处理器得知该电源供应装置因为过电压保护功能而关机;当该开关单元不导通时,该能量释放单元导通,该电源供应装置藉由该能量释放单元释放能量。
地址 新北市五股区五股工业区五工六路25号