发明名称 |
检测装置 |
摘要 |
本发明系揭露一种检测装置,其包含载台、点测装置、光感测装置及聚光单元。载台用以承载待测之复数个发光二极体晶片。点测装置包含二探针及一电源供应器,探针之二端分别电性连接复数个发光二极体晶片之一者及电源供应器,以令此发光二极体晶片发出复数道光线。光感测装置设于发光二极体晶片之出光面之一侧,用以接收发光二极体晶片发出之复数道光线。聚光单元设于发光二极体晶片与光感测装置之间,用以达到聚集发光二极体晶片发出之复数道光线之目的。 |
申请公布号 |
TWI460404 |
申请公布日期 |
2014.11.11 |
申请号 |
TW101135674 |
申请日期 |
2012.09.27 |
申请人 |
新世纪光电股份有限公司 台南市善化区大利三路5号 |
发明人 |
蔡泰成;吴岱纬;许国君;许寿文;李允立 |
分类号 |
G01J1/42;G01J1/04 |
主分类号 |
G01J1/42 |
代理机构 |
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代理人 |
李国光 新北市中和区中正路928号5楼;张仲谦 新北市中和区中正路928号5楼 |
主权项 |
一种检测装置,该检测装置至少包含一载台,该载台用以承载待测之复数个发光二极体晶片;一点测装置,该点测装置包含二探针及一电源供应器,该些探针之二端分别电性连接该些发光二极体晶片之一者及该电源供应器,以令该发光二极体晶片发出复数道光线;一光感测装置,该光感测装置设于该发光二极体晶片之出光面之一侧;以及一聚光单元,该聚光单元设于该发光二极体晶片与该光感测装置之间,其中该聚光单元为一聚光膜。 |
地址 |
台南市善化区大利三路5号 |