发明名称 |
半导体电感器及其方法 |
摘要 |
本发明提供一种次100奈米半导体装置及用以制造装置之方法及程式产品,特别是,电感器包括设置于一介电质表面之复数个间隔平行金属线,且其每一具有决定为设计规则检测规则之函数的宽度、高度、间隔、及横截面积。针对一平坦化制程规则,决定并产生了80%金属对于20%介电质表面的一金属密度比例。在一范例中,金属线间隔空隙的总和小于金属线内部侧壁高度的总和。在一方面,选择线高度、宽度、及线间隔尺寸之至少之一,以最佳化一或多个晶片良率、晶片效能、晶片可制造性、及电感器Q系数参数。 |
申请公布号 |
TWI460747 |
申请公布日期 |
2014.11.11 |
申请号 |
TW096136274 |
申请日期 |
2007.09.28 |
申请人 |
万国商业机器公司 美国 |
发明人 |
赵忠衍;金大益;金锺海;穆J. 金;尚奥立佛 普洛查特;罗伯E. 崔新斯基 |
分类号 |
H01F17/00;H01F27/28;H01F41/04 |
主分类号 |
H01F17/00 |
代理机构 |
|
代理人 |
李宗德 台北市大安区敦化南路2段218号5楼A区 |
主权项 |
一种次100奈米制程半导体电感器,包含:复数个间隔平行金属线,设置于一介电质表面,且连接一第一电感器埠至一第二电感器埠;每一该线具有一宽度及一横截面积,每一该线与一邻近线间隔一间隔空隙;其中该复数个线宽度、横截面积、及间隙为设计规则检测规则的一函数。 |
地址 |
美国 |