Verfahren und Anordnung zur Ausgabe von Fehlerinformationen aus Halbleitereinrichtungen

摘要

Verfahren zur Ausgabe von Fehlerinformation aus einer Halbleitereinrichtung (HE) mit Speichereinrichtungen (SE), die Speicherzellen (SZ) aufweisen, umfassend: gleichzeitiges Ermitteln der jeweils genau einer der Speichereinrichtungen (SE) zugeordneten Fehlerinformation mittels Teststeuereinheiten (TE), die jeweils genau einer der Speichereinrichtungen (SE) zugeordnet sind; Zwischenspeichern der Fehlerinformation in Pipelinestufen, die den Speichereinrichtungen (SE) zugeordnet sind; und sequenzielles übertragen der den Speichereinrichtungen (SE) zugeordneten Fehlerinformation auf einem mit den Teststeuereinheiten (TE) verbundenen Test-Datenausgangsbus (ATE_D0) an eine Prüfapparatur (PA).