| 摘要 |
Verfahren zur Ermittlung einer Steuerbefehlsfolge (AS') für eine Magnetresonanz-Messsequenz mit einer Mehrzahl von Einzelmessungen, um die Einzelmessungen später hinsichtlich eines Auswertungsparameters auszuwerten und die dabei aus den Einzelmessungen erhaltenen Auswertungsergebnisse zu einem Gesamtauswertungsergebnis (GA) der Magnetresonanz-Messsequenz zu kombinieren, wobei die Steuerbefehlsfolge (AS') so aufgebaut wird, dass zwischen verschiedenen Einzelmessungen zumindest ein Sequenzsteuerparameter (d1, d2, ..., dk, ..., dN) derart variiert wird, dass die Varianz eines Messfehlers bezüglich des Gesamtauswertungsergebnisses (GA) minimiert wird, wobei die Magnetresonanz-Messsequenz eine Mehrschichtmessung umfasst und in den Einzelmessungen jeweils einzelne Schichten (S1, S2, ..., Sk, ..., SN) des Untersuchungsobjekts (O) gemessen werden und dabei der Schichtabstand und/oder die Schichtdicke (d1, d2, ..., dk, ..., dN) in Abhängigkeit von einer Querschnittsfläche (A1, A2, ..., Ak, ..., AN) des Untersuchungsobjekts (O) in der betreffenden Schicht (S1, S2, ..., Sk, ..., SN) variiert werden, wobei der Schichtabstand umso enger und/oder die Schichtdicke (d1, d2, ..., dk, ..., dN) umso geringer gewählt wird, je stärker sich die Querschnittsfläche (A1, A2, ..., Ak, ..., AN) des Untersuchungsobjekts (O) zwischen benachbarten Schichten (S1, S2, Sk, ..., SN) ändert. |
