发明名称 |
一种RoHS专用X荧光分析仪 |
摘要 |
本实用新型涉及一种RoHS专用X荧光分析仪,包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及样品移动测试平台、内置高清晰度摄像头,信号探测装置中设置有与信号处理装置连接的探测器,信号处理装置与计算机连接,激发光源装置与计算机控制连接,激发光源装置中设置有X射线发生器,探测器位于X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上,X射线发生器前设置有滤光片选择装置和准直器,探测器为SDD电制冷探测器。本实用新型可对各类样品中的RoHS指令中有害元素(Pb,Cd,Hg,Br,Cr)进行精准测试及无卤测试。 |
申请公布号 |
CN203929682U |
申请公布日期 |
2014.11.05 |
申请号 |
CN201420132934.6 |
申请日期 |
2014.03.21 |
申请人 |
上海精谱科技有限公司 |
发明人 |
乔文韬;苏建平;周偃 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
上海天翔知识产权代理有限公司 31224 |
代理人 |
吕伴 |
主权项 |
一种RoHS专用X荧光分析仪,其特征在于:所述RoHS专用X荧光分析仪包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、滤光片准直器控制系统、样品移动测试平台、计算机、摄像头和数码控制器,计算机上连接有输出装置,所述信号探测装置中设置有与所述信号处理装置连接的SDD电制冷探测器,所述信号处理装置与所述计算机连接,所述激发光源装置与所述计算机连接,所述激发光源装置中设置有X射线发生器和高压发生器,所述SDD电制冷探测器位于所述X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上,所述X射线发生器前设置有滤光片准直器控制系统,所述滤光片准直器控制系统包括滤光片和准直器,所述样品移动测试平台上连接一电机驱动装置,所述计算机上连接有数码控制器,所述摄像头设置在样品移动测试平台的底部。 |
地址 |
201800 上海市嘉定区汇仁路1500号5幢3楼B区 |