发明名称 |
电子零件的转接式测试设备 |
摘要 |
本发明公开了一种电子零件的转接式测试设备包含一箱体组件、多个第一主机板组件及一处理机。第一主机板组件设置于箱体组件中。各第一主机板组件包含一主机板、一第一主插座、一转接板、多个测试插座及一处理器。主机板直立地设置于箱体组件中。第一主插座设置于主机板上,并电连接至主机板。转接板电连接至第一主插座,并实质上垂直于主机板。测试插座设置于转接板上。处理器设置于主机板上,并电连接至主机板。处理机将多个电子零件分别沿着一铅直方向插入至此等测试插座中以进行测试,并于测试完毕后将此等电子零件拔出。通过上述的转接式测试设备,可以在有限的空间下创造出更多的测试产能,并有效降低测试成本。 |
申请公布号 |
CN102455406B |
申请公布日期 |
2014.11.05 |
申请号 |
CN201010528148.4 |
申请日期 |
2010.11.01 |
申请人 |
维瀚科技有限公司 |
发明人 |
罗文贤 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I;G01R1/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
任默闻 |
主权项 |
一种电子零件的转接式测试设备,其特征在于,所述的转接式测试设备包含:一箱体组件;多个第一主机板组件,设置于所述箱体组件中,各所述第一主机板组件包含:一主机板,直立地设置于所述箱体组件中;一第一主插座,设置于所述主机板上,并电连接至所述主机板;一转接板,插接至所述第一主机板组件的所述第一主插座中,电连接至所述第一主插座,并垂直于所述主机板;多个测试插座,设置于所述转接板上;及一中央处理器,设置于所述主机板上,并电连接至所述主机板;一处理机,以吸附的方式吸取多个电子零件分别沿着一铅直方向插入至所述的多个测试插座中以进行测试,并于测试完毕后将所述的多个电子零件拔出,各所述电子零件为集成电路;以及一电源供应器,电连接至所述处理机,所述处理机电连接至所述主机板,所述处理机在将所述电子零件插入至所述测试插座中后导通所述电源供应器及所述主机板以进行测试,并于测试完毕后断开所述电源供应器及所述主机板。 |
地址 |
中国台湾新竹县 |