发明名称 一种晶圆级真空封装的红外探测器及其制作方法
摘要 本发明公开了一种晶圆级真空封装的红外探测器及其制作方法。本发明采用2片晶圆键合的方式来实现红外探测器的制作及实现其晶圆级封装,其优点是:把CMOSIC与MEMS器件分开制作,既实现与CMOSIC的集成,又增加MEMS红外探测器器件制作的灵活性,又能同时实现晶圆级封装,降低封装成本。
申请公布号 CN102583220B 申请公布日期 2014.11.05
申请号 CN201210088369.3 申请日期 2012.03.29
申请人 江苏物联网研究发展中心 发明人 欧文
分类号 B81B7/00(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I;G01J5/12(2006.01)I 主分类号 B81B7/00(2006.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人 殷红梅
主权项  晶圆级真空封装的红外探测器,包括第一片晶圆(101)和第二片晶圆(201),其特征是:所述第一片晶圆(101)为常规的硅片,采用标准的CMOS IC制作工艺制作出红外探测器的读出电路,同时利用CMOS IC的最后一层金属制作出红外探测器共振吸收结构的反光板(104);所述第二片晶圆(201)为Si片或Ge片或GaAs或GeSi片,第二片晶圆(201)上制作有MEMS探测器器件,其中的红外吸收层(206)与第一片晶圆的反光板(104)构成共振吸收结构,增强红外吸收效率;在第一片晶圆(101)有反光板(104)的一面淀积有钝化层介质(103),贯穿所述第一片晶圆(101)和钝化层介质(103)制有TSV结构(102)用于电连接及实现贴片式封装,在TSV结构(102)和钝化层介质(103)的电连接点制作第一低温焊接材料(105);所述第二片晶圆(201)有凹槽的一面制作有第一抗反射层(203),没有凹槽的一面制作有第二抗反射层(212),在第一抗反射层(203)对应凹槽以外的部分制有电连接金属(207)和吸气剂(208),在电连接金属(207)表面制作第二低温焊接材料(209);绝热悬臂梁(204)中的导电材料一端与电连接金属(207)相连,另一端位于红外吸收区(205),并且位于红外吸收区(205)两侧的绝热悬臂梁(204)通过金属实现电连接,红外吸收层(206)位于红外吸收区(205)的下表面或上表面,红外吸收层(206)与绝热悬臂梁(204)的导电材料之间有介质层进行电隔离;所述绝热悬臂梁(204)、红外吸收区(205)、红外吸收层(206)与第一抗反射层(203)对应凹槽的部分之间为空腔(211),由所述第一片晶圆(101)与第二片晶圆(201)的焊接实现封装。
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