发明名称 |
一种具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置 |
摘要 |
一种具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置,包括一面带有若干散热片的PCB板,PCB板与用于固定PCB板的支撑支架相连。本实用新型结构简单,能大大降低大功率芯片在老化试验过程中的温度,确保了芯片老化试验温度标定的准确度与实验数据的可靠性,而且随着芯片功率增加,芯片结温与环境温度的差值也随之变小。同时还可以通过支撑支架将结构竖起来放置,大大的节省空间,让同一个试验箱中容纳更多的芯片老化装置。 |
申请公布号 |
CN203934094U |
申请公布日期 |
2014.11.05 |
申请号 |
CN201420229893.2 |
申请日期 |
2014.05.06 |
申请人 |
西安交通大学 |
发明人 |
方亮;闫转芳;阮友亮;孙甲鹏;孙琨 |
分类号 |
H05K1/02(2006.01)I;H05K7/20(2006.01)I;G01R31/26(2014.01)I |
主分类号 |
H05K1/02(2006.01)I |
代理机构 |
西安通大专利代理有限责任公司 61200 |
代理人 |
陆万寿 |
主权项 |
一种具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置,其特征在于:包括一面带有若干散热片的PCB板(1),PCB板(1)与用于固定PCB板的支撑支架(4)相连。 |
地址 |
710049 陕西省西安市咸宁西路28号 |