测试装置

摘要

本发明的目的在于减小装置构成。本发明提供一种测试装置，该测试装置包括：第1缓冲部及第2缓冲部，其对失效资料及位址资料进行缓冲处理；位址失效记忆体部，其藉由读取-修改-写入处理而将经第1缓冲部缓冲处理的失效资料写入至内部记忆体中与该失效资料在对应的位址资料中表示的位址；以及控制部，其在将自测试部输出的失效资料及位址资料提供给第1缓冲部的状态下，当第1缓冲部的可用空间达到预先规定的第1临限值以下时，将自测试部输出的失效资料及位址资料提供给第2缓冲部，取代提供给第1缓冲部。

主权项

一种测试装置，对被测试记忆体进行测试，该测试装置包括：测试部，输出表示上述被测试记忆体的单元为不良的失效资料及表示上述单元的位址的位址资料；第1缓冲部，对上述失效资料及上述位址资料进行缓冲处理；第2缓冲部，对上述失效资料及上述位址资料进行缓冲处理；位址失效记忆体部，藉由读取-修改-写入处理而将经上述第1缓冲部缓冲处理的上述失效资料写入至内部记忆体中的与该失效资料对应的位址资料中表示的位址；切换部，对将自上述测试部输出的上述失效资料及上述位址资料提供给上述第1缓冲部，或将经上述第2缓冲部缓冲处理的上述失效资料及上述位址资料提供给上述第1缓冲部进行切换；以及控制部，在将自上述测试部输出的上述失效资料及上述位址资料提供给上述第1缓冲部的状态下，当上述第1缓冲部的可用空间达到预先规定的第1临限值以下时，将自上述测试部输出的上述失效资料及上述位址资料提供给上述第2缓冲部，取代提供给上述第1缓冲部。