发明名称 半导体装置及其终端区结构
摘要 一种半导体装置之终端区结构,包含一半导体层;复数沟槽,形成于该半导体层之表面;一连结沟槽,形成于该半导体层之表面,用于连接该复数沟槽中相邻之二沟槽;一第一绝缘层,形成于该复数沟槽、该连结沟槽、及该半导体层之表面;导电材料,形成于该复数沟槽及该连结沟槽内;一第二绝缘层,覆盖该第一绝缘层之部分表面及该导电材料之部分表面;及一金属层,覆盖该第二绝缘层之部分表面。
申请公布号 TW201442253 申请公布日期 2014.11.01
申请号 TW102113858 申请日期 2013.04.19
申请人 实用半导体有限公司 发明人 林文斌
分类号 H01L29/872(2006.01);H01L21/329(2006.01) 主分类号 H01L29/872(2006.01)
代理机构 代理人 <name>赖经臣</name><name>宿希成</name>
主权项
地址 桃园县芦竹市南崁路2段9号4楼之6 TW