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发明名称
均匀域测试装置及测试方法
摘要
一种均匀域测试装置,适用于电磁场辐射抗扰度均匀域测试。该均匀域测试装置包括测试架与安装于测试架的若干场强探头。该若干场强探头位于同一平面内并呈阵列排布,位于同一行或同一列的相邻的场强探头的间距不小于电磁场辐射抗扰度均匀域测试中相邻测试点的最小间距。同时提供一种使用该均匀域测试装置进行电磁场辐射抗扰度均匀域测试的方法。
申请公布号
TWI459000
申请公布日期
2014.11.01
申请号
TW100149655
申请日期
2011.12.29
申请人
鸿海精密工业股份有限公司 新北市土城区自由街2号
发明人
何小练
分类号
G01R29/08
主分类号
G01R29/08
代理机构
代理人
主权项
一种均匀域测试装置,适用于电磁场辐射抗扰度均匀域测试,其改良在于:该均匀域测试装置包括测试架与安装于测试架的若干场强探头,该测试架包括垂直立于地面之上且相互平行的两个立柱及以预定高度间隔设置于立柱上且相互平行的若干横杆,该若干场强探头位于同一平面内并呈阵列排布,位于同一行或同一列的相邻的场强探头的间距不小于电磁场辐射抗扰度均匀域测试中相邻测试点的最小间距,该若干场强探头分别安装于该若干横杆的两端,以使该若干场强探头处于同一竖直平面内并分别对应位于均匀域测试的多个测试点。
地址
新北市土城区自由街2号
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