发明名称 沟槽的形成方法
摘要 一种沟槽的形成方法,包括:提供硅衬底,所述硅衬底包括第一区域和第二区域;对所述硅衬底进行等离子体刻蚀,所述等离子体刻蚀包括:进行第一阶段刻蚀,在硅衬底中第一开口和第二开口,所述第一开口的宽度小于的第二开口的宽度;进行第二阶段氧化,在所述第一开口底部和侧壁形成第一氧化层、在第二开口的底部和侧壁形成第二氧化层;进行第三阶段刻蚀,刻蚀去除第一氧化层和部分厚度的第二氧化层;进行第四阶段刻蚀,形成第三开口和第四开口;重复循环第二阶段氧化、第三阶段刻蚀和第四阶段刻蚀的步骤,直至在硅衬底的第一区域中形成若干第一沟槽、在衬底的第二区域中形成若干第二沟槽。有效的消除刻蚀负载效应对刻蚀过程的影响。
申请公布号 CN104124194A 申请公布日期 2014.10.29
申请号 CN201310156972.5 申请日期 2013.04.28
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 王新鹏
分类号 H01L21/762(2006.01)I 主分类号 H01L21/762(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 骆苏华
主权项 一种沟槽的形成方法,其特征在于,包括:提供硅衬底,所述硅衬底包括第一区域和第二区域;对所述硅衬底进行等离子体刻蚀,所述等离子体刻蚀包括:进行第一阶段刻蚀,在硅衬底的第一区域中形成若干第一开口,在硅衬底的第二区域中形成若干第二开口,所述第一开口的宽度小于的第二开口的宽度,第一区域中第一开口的密度大于第二区域中第二开口的密度;进行第二阶段氧化,在所述第一开口底部和侧壁形成第一氧化层、在第二开口的底部和侧壁形成第二氧化层,第一氧化层的厚度小于第二氧化层的厚度;进行第三阶段刻蚀,刻蚀去除第一氧化层和部分厚度的第二氧化层;进行第四阶段刻蚀,沿第一开口刻蚀第一区域的硅衬底,形成第三开口,沿第二开口刻蚀剩余的第二氧化层和第二区域的硅衬底,形成第四开口;重复循环第二阶段氧化、第三阶段刻蚀和第四阶段刻蚀的步骤,直至在硅衬底的第一区域中形成若干第一沟槽、在衬底的第二区域中形成若干第二沟槽。
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