发明名称 一种生长在Si衬底上的LED外延片
摘要 本实用新型公开了一种生长在Si衬底上的LED外延片,包括Si衬底、AlN成核层、Al<sub>x</sub>Ga<sub>1-x</sub>N步进缓冲层、AlN/GaN应力补偿层、Si掺n-GaN层、In<sub>y</sub>Ga<sub>1-y</sub>N/GaN量子阱层、Al<sub>z</sub>Ga<sub>1-z</sub>N电子阻挡层和Mg掺p-GaN层,所述AlN成核层、Al<sub>x</sub>Ga<sub>1-x</sub>N步进缓冲层、AlN/GaN应力补偿层、Si掺n-GaN层、In<sub>y</sub>Ga<sub>1-y</sub>N/GaN量子阱层、Al<sub>z</sub>Ga<sub>1-z</sub>N电子阻挡层和Mg掺p-GaN层依次生长在Si衬底上。本实用新型中外延生长多量子阱层、电子阻挡层、p型GaN层,确保在外延降温过程中不产生裂纹,能够在Si衬底上外延出高质量的GaN薄膜,降低缺陷密度,提高LED的内量子效率。
申请公布号 CN203910839U 申请公布日期 2014.10.29
申请号 CN201420307705.3 申请日期 2014.06.10
申请人 广州市众拓光电科技有限公司 发明人 李国强
分类号 H01L33/12(2010.01)I;H01L33/16(2010.01)I;H01L33/00(2010.01)I 主分类号 H01L33/12(2010.01)I
代理机构 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 代理人 汤喜友
主权项 一种生长在Si衬底上的LED外延片,其特征在于,包括Si衬底、AlN成核层、Al<sub>x</sub>Ga<sub>1‑x</sub>N步进缓冲层、AlN/GaN应力补偿层、Si掺n‑GaN层、In<sub>y</sub>Ga<sub>1‑y</sub>N/GaN量子阱层、Al<sub>z</sub>Ga<sub>1‑z</sub>N电子阻挡层和Mg掺p‑GaN层,所述AlN成核层、Al<sub>x</sub>Ga<sub>1‑x</sub>N步进缓冲层、AlN/GaN应力补偿层、Si掺n‑GaN层、In<sub>y</sub>Ga<sub>1‑y</sub>N/GaN量子阱层、Al<sub>z</sub>Ga<sub>1‑z</sub>N电子阻挡层和Mg掺p‑GaN层依次生长在Si衬底上,其中,x为0‑1,y为0‑0.2,z为0‑0.3。
地址 510000 广东省广州市广州高新技术产业开发区科学城南翔一路62号厂房