发明名称 一种演进系统中发射天线配置的检测方法及装置
摘要 本发明公开了一种演进系统中发射天线配置的检测方法及装置。该方法包括:在接收端接收信号并提取每根发射天线发送参考信号位置上的子载波信号,计算得到每根发射天线在不同带宽下的参考信号能量信息,并确定当前带宽;将获得的当前带宽下具有一根发射天线时参考信号能量信息与具有非一根天线的发射分集方式时参考信号能量信息进行比较,根据比较结果确定发射端的发射天线个数。本发明不需要对P-BCH进行多次解调来得到发射天线数目,可以使得小区初搜索的性能提高,并且降低了实现的复杂度。
申请公布号 CN102036260B 申请公布日期 2014.10.29
申请号 CN200910176075.4 申请日期 2009.09.28
申请人 中兴通讯股份有限公司 发明人 李焱;曹子晟
分类号 H04W24/00(2009.01)I;H04W48/16(2009.01)I;H04B7/06(2006.01)I 主分类号 H04W24/00(2009.01)I
代理机构 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人 黄志华
主权项 一种演进系统中发射天线配置的检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:在接收端接收发射端发射的信号并提取每根发射天线发送参考信号位置上的子载波信号,计算得到每根发射天线在不同带宽下的参考信号能量信息,并确定当前带宽,利用如下公式计算可用带宽内第一发射天线对应位置上接收到的参考信号的平均能量信息,<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><msubsup><mover><mi>R</mi><mo>&OverBar;</mo></mover><mi>p</mi><msub><mi>M</mi><mi>i</mi></msub></msubsup><mo>=</mo><mfrac><mrow><mover><mi>&Sigma;</mi><mi>L</mi></mover><mover><mi>&Sigma;</mi><msub><mi>M</mi><mi>i</mi></msub></mover><msub><mi>r</mi><mrow><mi>p</mi><mo>,</mo><mi>t</mi></mrow></msub><mrow><mo>(</mo><mi>l</mi><mo>,</mo><mi>m</mi><mo>)</mo></mrow><mo>&CenterDot;</mo><msubsup><mi>r</mi><mrow><mi>p</mi><mo>,</mo><mi>t</mi><mo>+</mo><mn>1</mn></mrow><mo>*</mo></msubsup><mrow><mo>(</mo><mi>l</mi><mo>,</mo><mi>m</mi><mo>)</mo></mrow></mrow><mrow><msub><mi>M</mi><mi>i</mi></msub><mo>&CenterDot;</mo><mi>L</mi></mrow></mfrac></mrow>]]></math><img file="FSB0000127274620000011.GIF" wi="704" he="186" /></maths>其中,<img file="FSB0000127274620000012.GIF" wi="70" he="60" />表示编号为p的发射天线下对应位置上接收到的每个参考信号的平均能量值;M<sub>i</sub>表示一个OFDM符号中带有参考信号的子载波数目,i=0,1,...,5,p表示发射天线编号,t为时隙号、l为OFDM符号的编号,m为子载波编号,r<sub>p,t</sub>(l,m)表示第p根发射天线上第t个时隙内中l个OFDM符号上第m个子载波上的RS信号,r<sub>p,t+1</sub>(l,m)表示第p根发射天线上第t+1个时隙中l个OFDM符号上第m个子载波上的RS信号,L表示用于估计的OFDM符号个数,是一个或多个下行子帧内的含有参考信号的OFDM符号;将获得的当前带宽下具有一根发射天线时参考信号能量信息与具有非一根天线的发射分集方式时参考信号能量信息进行比较,根据比较结果确定发射天线个数,其中,所述当前带宽下具有一根发射天线时参考信号能量信息与具有非一根天线的发射分集方式时参考信号能量信息是根据所述每根发射天线在不同带宽下的参考信号能量信息获得。
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