发明名称 用于半导体的粘合剂组合物和包含它的粘合剂膜
摘要 本发明涉及用于半导体的粘合剂组合物和包括它的粘合剂膜。在包括在120℃至130℃的温度下固化1分钟至20分钟的第一阶段,在140℃至150℃的温度下固化1分钟至10分钟的第二阶段,在160℃至180℃的温度下固化30秒至10分钟的第三阶段,和在160℃至180℃的温度下固化10分钟至2小时的第四阶段的固化工艺中,所述粘合剂膜在第一阶段中具有100%单体转化的40%或更少的DSC单体转化,在第四阶段中具有比在第三阶段中的DSC单体转化高30%至60%的DSC单体转化,并且在第二和第三阶段中各自具有比其前一阶段的DSC单体转化高5%或更多的DSC单体转化。
申请公布号 CN104125994A 申请公布日期 2014.10.29
申请号 CN201280070440.3 申请日期 2012.12.20
申请人 第一毛织株式会社 发明人 李俊雨;金成旻;金仁焕;朴白晟;任首美;崔裁源
分类号 C09J7/02(2006.01)I;C09J11/06(2006.01)I;C09J163/00(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I 主分类号 C09J7/02(2006.01)I
代理机构 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人 王峰;王珍仙
主权项 一种用于半导体的粘合剂膜,其中,包括在120℃至130℃的温度下固化1分钟至20分钟的第一阶段,在140℃至150℃的温度下固化1分钟至10分钟的第二阶段,在160℃至180℃的温度下固化30秒至10分钟的第三阶段,和在160℃至180℃的温度下固化10分钟至2小时的第四阶段的固化工艺中,所述粘合剂膜在所述第一阶段中具有100%单体转化的40%或更少的DSC单体转化,在所述第四阶段中具有比在所述第三阶段中的DSC单体转化高30%至60%的DSC单体转化,并且在所述第二和所述第三阶段中各自具有比其前一阶段的DSC单体转化高5%或更多的DSC单体转化。
地址 韩国庆尚北道