一种测量天线罩任意位置插入损耗的方法

摘要

本发明公开了一种测量天线罩任意位置插入损耗的方法。本发明提出了利用Y因子法测量天线任意位置时，天线在带罩和不带罩情况下的噪声温度，计算二者的差值求得天线罩引起的天线剩余噪声温度，由此确定天线罩的插入损耗。本发明的方法简单可行，具有推广和应用价值。

主权项

一种测量天线罩任意位置插入损耗的方法，其特征在于包括步骤：(1)测量天线在带罩和不带罩情况下，天线的噪声温度T_an和T_an′，由测量的Y因子，利用下式计算天线噪声温度：$T_{\mathrm{an}}=\frac{T_0+T_{\mathrm{LNA}}}{Y_y}-T_{\mathrm{LNA}}$${T_{\mathrm{an}}}^{\prime }=\frac{T_0+T_{\mathrm{LNA}}}{Y_n}-T_{\mathrm{LNA}}$式中：T_an‑天线带罩情况下的噪声温度；T₀‑常温负载的噪声温度；T_LNA‑低噪声放大器的噪声温度；Y_y‑天线带罩时测量的Y因子；T_an′‑天线不带罩情况下的噪声温度；Y_n‑天线不带罩时测量的Y因子；所述的Y因子为低噪放大器接常温负载时的噪声功率与低噪放大器接天线时的噪声功率之比；(2)计算天线罩引起的天线剩余噪声温度ΔT：ΔT＝T_an‑T_an′(3)计算天线罩的插入损耗IL：由测量的天线罩引起的天线剩余噪声温度ΔT，用下式计算天线罩的插入损耗：$\mathrm{IL}=10\times \lg (1+\frac{\mathrm{\Delta T}}{T_0})$完成天线罩插入损耗的测量。