发明名称 | 自动分析装置 | ||
摘要 | 本发明提供一种分析装置,在精度管理试样的测定数据在预先设定的基准上下限值的范围以外时,通过简化校准或精度管理试样的再测定,可以迅速进行装置的精度管理的应对处理,而且可以继续实现高可靠性的分析。具有以下的功能:比较预先设定的精度管理试样的测定数据的基准上下限值和精度管理试样的测定数据,如果测定数据在基准上下限值之外,则推荐校准的再测定,用户可以通过操作画面进行确认以及可以容易地指示测定委托。另外,具有以下的单元:可以确认基准上下限值的范围之外的精度管理试样的测定数据以及可以容易地指示该分析项目的精度管理试样的再测定。 | ||
申请公布号 | CN102621339B | 申请公布日期 | 2014.10.29 |
申请号 | CN201210103683.4 | 申请日期 | 2006.09.11 |
申请人 | 株式会社日立高新技术 | 发明人 | 折桥敏秀;高木由充;笠间干雄 |
分类号 | G01N35/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N35/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 许静;郭凤麟 |
主权项 | 一种自动分析装置,其特征在于,具有:设定并存储在精度管理试样的测定数据的判定中使用的判定参数的单元,其中所述判定参数是识别精度管理试样的信息、基准上下限范围和校准方法;基准范围设定单元,对于各个通过该设定单元所设定的精度管理试样,预先设定具有已知成分的精度管理试样的测定数据的基准范围;当进行精度管理试样的测定,输出测定数据时,判定测定数据是否是作为精度管理数据采用的数据的单元,在该判定中,对于与测定数据一同输出了试样不足、不宜作为精度管理数据采用的警告的测定数据,不进行使用基准上下限值的判定处理;在输出了作为精度管理数据采用的测定数据时,进行使用了基准上下限值的判定处理的单元,其首先从存储单元中读出判定参数和基准上下限值,在作为分析项目的所述判定参数设定了精度管理试样时,比较该精度管理试样的测定数据和所述基准上下限值;以及校准设定单元,预先设定成在所测定的分析项目的测定数据未收容在由所述基准范围设定单元所设定的基准上下限值的范围内时,对该分析项目的试剂实施的校准的方法。 | ||
地址 | 日本东京都 |