| 发明名称 | 具有空间分辨能力的X射线微区吸收谱测量方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种具有空间分辨能力的X射线微区吸收谱测量方法，其特征在于，包括：产生具有预定能量的X射线单色光；记录所述X射线单色光的强度信息；利用具有多个像素单元的成像探测器采集穿过所述样品后的所述X射线单色光，以获得所述样品于所述预定能量下的吸收谱信息。本发明利用X射线成像探测器采集在一定X射线能量范围内的样品二维投影数据，可以同时分别获得每个像素点所代表的样品区域的X射线吸收谱信息。 | ||
| 申请公布号 | CN104122279A | 申请公布日期 | 2014.10.29 |
| 申请号 | CN201410345781.8 | 申请日期 | 2014.07.18 |
| 申请人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明人 | 张凯;吴雪卉;朱佩平;袁清;黄万霞 |
| 分类号 | G01N23/083(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/083(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人 | 路兆强;邢雪红 |
| 主权项 | 一种具有空间分辨能力的X射线微区吸收谱测量方法，其特征在于，包括：产生具有预定能量的X射线单色光；记录所述X射线单色光的强度信息；利用具有多个像素单元的成像探测器采集穿过所述样品后的所述X射线单色光，以获得所述样品于所述预定能量下的吸收谱信息。 | ||
| 地址 | 100049 北京市石景山区玉泉路19号乙院 | ||