| 发明名称 | 检测方法及检测装置 | ||
| 摘要 | 本发明是有关于一种检测方法包括下列步骤：令光电检测元件与包括多个像素单元的像素阵列基板接触。输入多个电气信号至像素阵列基板的像素单元与光电检测元件。根据光电检测元件的光学特性，判断像素阵列基板的像素单元是否正常。此外，一种实现上述检测方法的检测装置亦被提出。 | ||
| 申请公布号 | CN104122073A | 申请公布日期 | 2014.10.29 |
| 申请号 | CN201410049504.2 | 申请日期 | 2014.02.12 |
| 申请人 | 元太科技工业股份有限公司 | 发明人 | 刘全丰;黄振勋;黄霈霖;李锡麟;蔡振法;张永昇 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人 | 寿宁;张华辉 |
| 主权项 | 一种检测方法，其特征在于包括：提供像素阵列基板，该像素阵列基板包括多个像素单元；提供光电检测元件；令该光电检测元件与该像素阵列基板接触；输入多个电气信号至该像素阵列基板的上述像素单元与该光电检测元件；以及根据该光电检测元件的光学特性，判断该像素阵列基板的上述像素单元是否正常。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹市科学工业园区力行一路3号 | ||