发明名称 测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路
摘要 测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路。目前,国内还没有针对高压开关测试仪校验装置时间参数进行校验的专用设备,一般采用多种仪器组合以手动方式校验,存在接线复杂,附加误差多,需专业人员进行操作,工作效率低等不足。本发明的组成包括:高压开关测试仪校验装置控制电路(1),所述的高压开关测试仪校验装置控制电路分别与电子计数器(2)、被测校验装置(3)连接。本发明用于测试高压开关测试仪校验装置时间参数。
申请公布号 CN104122523A 申请公布日期 2014.10.29
申请号 CN201410369229.2 申请日期 2014.07.30
申请人 哈尔滨朗昇电气股份有限公司 发明人 陈满生;高瑞嵩
分类号 G01R35/00(2006.01)I 主分类号 G01R35/00(2006.01)I
代理机构 哈尔滨东方专利事务所 23118 代理人 陈晓光
主权项 一种测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路,其组成包括:高压开关测试仪校验装置控制电路,其特征是:所述的高压开关测试仪校验装置控制电路分别与电子计数器、被测校验装置连接。
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