发明名称 调制解调器模块测试系统及方法
摘要 一种调制解调器模块测试系统,包括至少一待测机以及一测试夹具。至少一待测机包括一调制解调器模块及一控制单元。控制单元电性连接至调制解调器模块,并用以执行一测试程序以初始化并监控调制解调器模块。测试夹具用以传送一振铃信号至调制解调器模块。其中,当测试程序监控到调制解调器模块接收到振铃信号,测试程序判断调制解调器模块通过测试。本发明可满足一对多的简单测试需求,缩减测试等待时间及人工操作时间,在软件的部分可单独开发亦可整合旧有测试软件,大幅降低了整体的测试成本。
申请公布号 CN102469214B 申请公布日期 2014.10.29
申请号 CN201010532144.3 申请日期 2010.10.29
申请人 英业达股份有限公司 发明人 杨崇豪;马定国;曹惠国
分类号 H04M3/22(2006.01)I 主分类号 H04M3/22(2006.01)I
代理机构 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人 梁挥;祁建国
主权项 一种调制解调器模块测试系统,其特征在于,包括:至少一待测机,包括一调制解调器模块及一控制单元,该控制单元电性连接至该调制解调器模块,并用以执行一测试程序以初始化并监控该调制解调器模块;以及一测试夹具,用以传送一振铃信号至该调制解调器模块,该测试夹具更包括:一振荡电路,用以提供一振荡信号;一电源控制电路,用以依据该振荡信号转换一直流电源为一振荡电压信号;以及一交流升压电路,用以依据该振荡电压信号输出该振铃信号;其中,当该测试程序监控到该调制解调器模块接收到该振铃信号,该测试程序判断该调制解调器模块通过测试。
地址 中国台湾台北市