半导体装置

摘要

本发明提供无需设置测试端子而能够进行测试模式投入的具备错误动作较少的测试模式电路的半导体装置。构成为具备与时钟同步地比较数据输入端子和数据输出端子的数据，并根据比较结果控制可否投入到测试模式的测试电路。

主权项

一种半导体装置，其特征在于，包括：时钟输入端子，输入时钟信号；指令数据输入端子，输入指令数据；数据输出端子，输出数据；串联连接的多个数据寄存器，与所述时钟信号同步地将从所述数据输入端子输入的所述指令数据暂时保存；指令解码器，判别所述多个数据寄存器输出的数据是正常指令还是测试指令，在所述数据为测试指令的情况下输出测试指令信号；比较器，与所述时钟信号同步地，比较输入到所述数据输入端子的指令数据和所述数据输出端子的数据，输出其检测信号；闩锁电路，将所述比较器输出的检测信号设为置位信号；以及逻辑电路，根据所述闩锁电路输出的信号，能够选择是否输出所述测试指令信号。