发明名称 反射電子検出機能を備えた走査電子顕微鏡
摘要 <p>【課題】ウィーンフィルタを利用し、2次電子と反射電子を分離してディテクティングすることができる反射電子検出機能を備えた走査電子顕微鏡を提供する。【解決手段】本発明は、反射電子検出機能を備えた走査電子顕微鏡に関し、本発明に係る反射電子検出機能を備えた走査電子顕微鏡は、光ソースから生成される1次電子(Primary Electron)を試料に入射させ、前記1次電子が入射された後、試料から放出される放出電子を検出するための走査電子顕微鏡において、前記光ソースと前記試料との間に配置され、磁場及び電場を発生させることによって、前記放出電子を2次電子(Secondary Electron)と前記反射電子(Back Scattered Electron)に分離するウィーンフィルタ部と、前記ウィーンフィルタ部から分離される2次電子と反射電子をそれぞれディテクティングするディテクティング部とを含むことを特徴とする。【選択図】図2</p>
申请公布号 JP2014528153(A) 申请公布日期 2014.10.23
申请号 JP20140533169 申请日期 2011.09.28
申请人 发明人
分类号 H01J37/28;H01J37/05;H01J37/244 主分类号 H01J37/28
代理机构 代理人
主权项
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