发明名称 无标准样品刻度的伽玛扫描测量方法
摘要 本发明属于伽玛定量测量技术领域,具体涉及一种用标准放射性点源刻度的伽玛扫描测量方法,包括以下步骤:a.用放射性标准点源建立高纯锗探测器的计算模型;b.通过对测量对象的纵向分段旋转透射测量分析,建立测量对象计算模型;c.通过纵向分段旋转自发射测量分析,得到高纯锗探测器对于测量对象中特征γ放射性射线的计数率;d.通过数学计算方法得到测量对象经自吸收校正后的放射性物质含量。所述的标准放射性点源为<sup>241</sup>Am、<sup>137</sup>Cs、<sup>60</sup>Co。所述的透射测量中用到的放射性透射源为<sup>75</sup>Se、<sup>152</sup>Eu、<sup>133</sup>Ba、<sup>226</sup>Ra。该方法只需要用标准放射性点源对伽玛扫描测量装置进行刻度即可测量不同核素的含量。<pb pnum="1" />
申请公布号 CN106342251B 申请公布日期 2014.10.22
申请号 CN201110012561.X 申请日期 2011.09.06
申请人 中国原子能科学研究院 发明人 王仲奇;甘霖;隋洪志;何丽霞;郜强
分类号 G01T1/167(2006.01)I 主分类号 G01T1/167(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 无标准样品刻度的伽玛扫描测量方法,包括以下步骤:a.用放射性标准点源建立高纯锗探测器的计算模型;将高纯锗探测器作为一个“黑箱”,利用探测器中未知参数不同取值对于高、中、低能放射性标准点源测量计数率的不同影响,根据高、中、低能放射性标准点源的测量计数率对探测器的未知参数给出适当的推测值,基于这些推测值建立高纯锗探测器的计算模型;b.利用放射性透射源对测量对象的纵向分段旋转透射测量分析,根据比尔定律I/I<sub>0</sub>=exp(‑μL)建立测量对象自吸收校正计算模型,式中I/I<sub>0</sub>为特征γ射线对测量对象的透射率,μ为特征γ射线在测量对象中的平均线衰减系数,L为测量对象的直径;c.通过纵向分段旋转自发射测量分析,得到高纯锗探测器对于测量对象中特征γ放射性射线的计数率;d.利用下列公式<maths id="cmaths0001" num="0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>n</mi><mo>=</mo><mfrac><mi>m</mi><mi>M</mi></mfrac><msub><mi>&lambda;N</mi><mi>A</mi></msub><msub><mi>B</mi><mi>r</mi></msub><mi>&eta;</mi></mrow>]]></math><img file="FWW0000000070200000011.GIF" wi="304" he="103" /></maths>得到测量对象经自吸收校正后的放射性物质含量,式中计数率n是对测量对象中放射性核素的特征γ射线的测量值,来自于实验,单位为s<sup>‑1</sup>;m为测量对象中放射性核素质量,单位为g;M为该放射性核素的摩尔质量,单位为g;λ为衰变常数,单位s<sup>‑1</sup>;N<sub>A</sub>为阿佛伽德罗常数;B<sub>r</sub>为该放射性核素发射该特征γ射线的发射率;η是探测器对于样品中该特征γ射线的探测效率,通过MCNP4C程序模拟计算得到。
地址 102413 北京市房山区新镇中国原子能科学研究院科技信息部