发明名称 | 用全息视频显微术来跟踪和表征颗粒 | ||
摘要 | 本发明提供了产生诸如分散在透明介质中的一个或多个颗粒等样品的图像的同轴全息术。用来自光散射理论的结果来分析这些图像提供具有纳米尺寸分辨率的颗粒尺寸、在千分之一以内的其折射率、及具有纳米分辨率的其三维空间位置。此程序快速并直接地表征样品及其介质的机械、光学和化学性质。 | ||
申请公布号 | CN101842751B | 申请公布日期 | 2014.10.22 |
申请号 | CN200880114008.3 | 申请日期 | 2008.10.30 |
申请人 | 纽约大学 | 发明人 | D·G·格瑞尔;李相赫;张福倡 |
分类号 | G03H1/04(2006.01)I | 主分类号 | G03H1/04(2006.01)I |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 陈华成 |
主权项 | 一种用于光学地表征样品的方法,所述样品包括能够包含颗粒或不同相的介质和被设置在介质中的颗粒或不同相,所述方法包括:提供同轴全息显微镜;向所述同轴全息显微镜提供准直激光束;从样品散射准直激光束以产生散射部分;由所述准直激光束的未散射部分和所述散射部分产生干涉图案;记录该干涉图案以形成图像供后续分析;通过以下方式之一将所述图像归一化:(a)将所述图像除以先前记录的背景图像,(b)将所述图像除以归一化常数,以及(c)使用数字模型来提供背景图像并且将所述图像除以数字模型的背景图像,应用散射函数来分析所归一化的图像;以及测量样品的空间位置、机械性质、光学性质和化学性质中的至少一个。 | ||
地址 | 美国纽约 |