发明名称 低功耗的双向瞬态电压抑制器件
摘要 本实用新型公开一种低功耗的双向瞬态电压抑制器件,包括具有第一重掺杂N型区、重掺杂P型区和第二重掺杂N型区的P型单晶硅片,重掺杂P型区与第一重掺杂N型区接触的区域且靠位于重掺杂P型区边缘的四周区域具有第一轻掺杂N型区,此第一轻掺杂N型区的上表面与第一重掺杂N型区的下表面接触,此第一轻掺杂N型区的外侧面与第一沟槽接触;所述重掺杂P型区与第二重掺杂N型区接触的区域且靠位于重掺杂P型区边缘的四周区域具有第二轻掺杂N型区。本实用新型瞬态电压抑制器件在低压隧道击穿模式下,降低漏电流中来自表面的漏电流,大大降低整个器件的反向漏电流,从而进一步降低了功耗,避免了器件的局部温升,提高了电路稳定性和可靠性。
申请公布号 CN203895453U 申请公布日期 2014.10.22
申请号 CN201420191762.X 申请日期 2014.04.18
申请人 苏州固锝电子股份有限公司 发明人 管国栋;孙玉华
分类号 H01L27/02(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I 主分类号 H01L27/02(2006.01)I
代理机构 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人 马明渡;王健
主权项  一种低功耗的双向瞬态电压抑制器件,包括具有第一重掺杂N型区(2)、重掺杂P型区(1)和第二重掺杂N型区(9)的P型单晶硅片(3),此第一重掺杂N型区(2)、第二重掺杂N型区(9)分别位于重掺杂P型区(1)两侧,P型单晶硅片(3)两侧面四周分别具有第一沟槽(4)、第二沟槽(10),此第一沟槽(4)位于第一重掺杂N型区(2)四周并延伸至重掺杂P型区(1)的上部,此第二沟槽(10)位于第二重掺杂N型区(9)四周并延伸至重掺杂P型区(1)的下部;所述第一沟槽(4)的表面覆盖有第一绝缘钝化保护层(5),此第一绝缘钝化保护层(5)由第一沟槽(4)底部延伸至第一重掺杂N型区(2)表面的边缘区域,所述第二沟槽(10)的表面覆盖有第二绝缘钝化保护层(11),此第二绝缘钝化保护层(11)由第二沟槽(10)底部延伸至第二重掺杂N型区(9)表面的边缘区域;第一重掺杂N型区(2)的表面覆盖作为电极的第一金属层(6),第二重掺杂N型区(9)的表面覆盖作为电极的第二金属层(7);其特征在于:所述重掺杂P型区(1)与第一重掺杂N型区(2)接触的区域且位于边缘的四周区域具有第一轻掺杂N型区(8),此第一轻掺杂N型区(8)的上表面与第一重掺杂N型区(2)的接触,此第一轻掺杂N型区(8)的外侧面与第一沟槽(4)接触;所述重掺杂P型区(1)与第二重掺杂N型区(9)接触的区域且位于边缘的四周区域具有第二轻掺杂N型区(12),此第二轻掺杂N型区(12)的下表面与第二重掺杂N型区(9)的接触,此第二轻掺杂N型区(12)的外侧面与第二沟槽(10)接触。
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