模拟X射线穿透模体组件的衰减强度的方法

摘要

本发明公开一种模拟X射线穿透模体组件的衰减强度的方法，包括如下步骤：提供具有至少一个模体的模体组件并使X射线穿透模体组件，以获得在X射线入射方向上X射线与模体组件的各模体相交的原始交点；根据原始交点获得模体组件的各模体在X射线的入射方向上的相对位置关系；根据所述模体组件的各模体的相对位置关系获得X射线穿过各模体的路径长度；根据X射线穿过各模体的路径长度获得X射线穿透模体组件的衰减系数的路径积分；根据X射线穿透模体组件的衰减系数的路径积分获得X射线穿透模体组件后到达检测器的光强。本发明技术方案可以快速、方便且容易获得X射线穿透复杂模体组件后达到检测器的光强。

主权项

一种模拟X射线穿透模体组件的衰减强度的方法，其特征在于，包括如下步骤：提供具有至少一个模体的模体组件并使X射线穿透模体组件，以获得沿X射线入射方向上X射线与模体组件的各模体相交的原始交点；根据X射线与模体组件的各模体的原始交点获得模体组件的各模体在X射线的入射方向上的相对位置关系；根据模体组件的各模体在X射线的入射方向上的相对位置关系获得X射线穿过模体组件的各模体的路径长度；根据X射线穿过模体组件的各模体的路径长度获得X射线穿透模体组件的各模体的衰减系数的路径积分；对X射线穿透模体组件的各模体的衰减系数的路径积分进行求和处理获得X射线穿透模体组件的衰减系数的路径积分；根据X射线穿透模体组件的衰减系数的路径积分获得X射线穿透模体组件后到达检测器的光强。