发明名称 |
微观检测机台 |
摘要 |
本实用新型提供了一种微观检测机台,通过镜头上设置光控片,控制台中记录有待检晶圆的规定检测区域并且控制镜头的移动,当所述控制台控制所述镜头移动到所述待检晶圆的规定检测区域时,所述光控片透光,所述规定检测区域在所述镜头中显示;当所述控制台控制所述镜头移动到所述待检晶圆的剩余区域时,所述光控片不透光,所述剩余区域在所述镜头中不显示,由此便可在镜头中清楚、明确的区分显示出规定检测区域,从而方便了目检人员进行检测。 |
申请公布号 |
CN203894181U |
申请公布日期 |
2014.10.22 |
申请号 |
CN201420330451.7 |
申请日期 |
2014.06.19 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
发明人 |
毕强;孙强;陈思安 |
分类号 |
G01N21/95(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/95(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
屈蘅;李时云 |
主权项 |
一种微观检测机台,其特征在于,包括:基座;设置于所述基座上的载物台,所述载物台承载待检晶圆;设置于所述基座上的镜头;设置于所述镜头上的光控片;以及设置于所述基座上的控制台,所述控制台中记录有所述待检晶圆的规定检测区域,所述控制台控制所述镜头的移动;当所述控制台控制所述镜头移动到所述待检晶圆的规定检测区域时,所述光控片透光,所述规定检测区域在所述镜头中显示;当所述控制台控制所述镜头移动到所述待检晶圆的剩余区域时,所述光控片不透光,所述剩余区域在所述镜头中不显示。 |
地址 |
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区(亦庄)文昌大道18号 |