发明名称 |
一种光栅编码器低速精度检测装置 |
摘要 |
一种光栅编码器低速精度检测装置,包括壳体、编码器信号细分模块,DSP构成的数据处理电路模块、数据交互通信接口。设备利用外部晶振作为时钟源,DSP作为数据采集及处理单元,外围电路包括编码器信号细分电路、串口通讯电路以及显示模块。装置可以通过读取安装在旋转轴上的光栅编码器信号,以定时测角或者定角测时的方式测量速率精度。本检测装置采用了嵌入式的DSP作为数据处理单元,与传统的采用PCI数据采集卡借助工控机软件实现速率检测的方式相比,很大程度上减小了设备的体积;装置使用了细分电路模块,使用者可以根据实际需要调整信号的细分倍数,提高检测精度;DSP较强的数据处理能力,保证了测试装置的高效及稳定性。 |
申请公布号 |
CN104111347A |
申请公布日期 |
2014.10.22 |
申请号 |
CN201410266075.4 |
申请日期 |
2014.06.13 |
申请人 |
北京航天控制仪器研究所 |
发明人 |
张少坡;赵郭有为;张显奎;杨明;李亮;苏哲 |
分类号 |
G01P3/68(2006.01)I |
主分类号 |
G01P3/68(2006.01)I |
代理机构 |
中国航天科技专利中心 11009 |
代理人 |
安丽 |
主权项 |
一种光栅编码器低速精度检测装置,其特征在于包括:壳体(1)、数据处理单元模块(2)、屏蔽隔离层(3)、细分电路模块(4)、显示器(5)、按键(6)、固定螺栓(7)、光栅编码器信号接口(8)、串口通讯接口(9)和细分倍数调整开关(10);显示器(5)和按键(6)嵌装在壳体(1)的上端面上,显示器(5)的屏幕朝上,按键(6)的键盘方向朝上;光栅编码器信号接口(8)、串口通讯接口(9)和细分倍数调整开关(10)嵌装在壳体(1)的侧壁上;数据处理单元模块(2)、屏蔽隔离层(3)和细分电路模块(4)均位于壳体(1)内部,且自上而下安装,两个固定螺栓(7)自上而下穿过数据处理单元模块(2)、屏蔽隔离层(3)和细分电路模块(4)并与壳体(1)内壁底部固定连接,使得数据处理单元模块(2)、屏蔽隔离层(3)和细分电路模块(4)与壳体(1)的相对位置固定,数据处理单元模块(2)、屏蔽隔离层(3)和细分电路模块(4)之间相互不接触;细分电路模块(4)通过电缆与光栅编码器信号接口(8)连接,实现光栅编码器信号采集,细分电路模块(4)同时通过电缆与细分倍数调整开关(10)连接,实现光栅编码器信号细分倍数的调整;数据处理单元模块(2)通过电缆与细分电路模块(4)连接,接收细分倍数调整后的光栅编码器信号;数据处理单元模块(2)同时通过电缆与串口通讯接口(9)、显示器(5)和按键(6)连接,数据处理单元模块(2)接收来自按键(6)的指令信号或者通过串口通讯接口(9)输入的指令信号,对细分倍数调整后的光栅编码器信号进行处理,得到光栅编码器的速率精度,同时通过电缆将处理结果传输给显示器(5)显示或者通过串口通讯接口(9)上传给外部计算机显示。 |
地址 |
100854 北京市海淀区北京142信箱403分箱 |