发明名称 晶圆接地装置
摘要 本发明实施例揭露在电子束照射下增加晶圆导电度的一种装置。特别是揭露一种在进行接地程序同时,以电压击穿晶圆背面的绝缘层,以大幅降低晶圆基板背面的损伤。
申请公布号 TWI458042 申请公布日期 2014.10.21
申请号 TW098136310 申请日期 2009.10.27
申请人 汉民微测科技股份有限公司 新竹市埔顶路18号7楼 发明人 王义向;窦菊英;蒋军军;樊征;孟庆宇
分类号 H01L21/683 主分类号 H01L21/683
代理机构 代理人 陈达仁 台北市中山区长春路156号5楼
主权项 一种增加一晶圆导电度的装置,包含:一静电承台,用于固定一晶圆,该静电承台具有一或多个套孔,该静电承台耦接至一或多个电容;一或多个导电探针,一个该导电探针设置于一个该套孔内,该一或多个导电探针耦接至一或多个电阻;以及一电脉冲供应电源,其中该一或多个导电探针、该静电承台、该电脉冲供应电源系用来降低晶圆基板背面的毁伤。
地址 新竹市埔顶路18号7楼