发明名称 自动测试设备的积体电路测试介面
摘要 一种可升级一自动测试设备的积体电路测试介面,以测试一待测元件,该积体电路测试介面包含有至少一引脚,用来接收或传送至少一测试讯号至该自动测试设备之一测试机;复数个数化器,耦接于该至少一引脚,以产生一数位讯号;一处理器,耦接于该复数个数化器,用来进行该数位讯号的处理;以及一连接件,用来连接该处理器与一电脑设备,以将该处理器之一输出讯号传送至该电脑设备;其中,该积体电路测试介面设置于该自动测试设备之该测试机与一针测机之间。
申请公布号 TWM488641 申请公布日期 2014.10.21
申请号 TW103210068 申请日期 2014.06.06
申请人 矽创电子股份有限公司 发明人 陈俊吉;赖鸿尉;李宗润
分类号 G01R31/319 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人 吴丰任 新北市永和区福和路389号6楼之3;李俊陞 新北市永和区福和路389号6楼之3;戴俊彦 新北市永和区福和路389号6楼之3
主权项 一种积体电路测试介面,用来升级一自动测试设备,以测试一待测元件,该积体电路测试介面包含有:至少一引脚,用来接收或传送至少一测试讯号至该自动测试设备之一测试机;复数个数化器,耦接于该至少一引脚,以产生一数位讯号;一处理器,耦接于该复数个数化器,用来进行该数位讯号的处理;以及一连接件,用来连接该处理器与一电脑设备,以将该处理器之一输出讯号传送至该电脑设备;其中,该积体电路测试介面设置于该自动测试设备之该测试机与一针测机之间。
地址 新竹县竹北市台元一街5号11楼之1 TW 11F.-1, NO. 5, TAIYUAN 1ST ST., ZHUBEI CITY, HSINCHU COUNTY 302, TAIWAN (R. O. C.)