发明名称 |
具有自我测试的像素阵列模组及其自我测试方法 |
摘要 |
一种具有自我测试的像素阵列模组,包括一测试电路单元、多条测试讯号线以及一像素阵列。测试电路单元提供一测试功能。测试讯号线耦接在测试电路单元与像素阵列之间。像素阵列经由测试讯号线耦接至测试电路单元,并包括多个像素。各像素包括一电晶体。各电晶体具有一第一端及一第二端。对各像素而言,在一正常模式下,电晶体的一驱动讯号由其自身的第一端传递至第二端,以及在一测试模式下,电晶体的一测试讯号由其自身的第二端传递至第一端。另外,一种上述像素阵列模组的自我测试方法亦被提出。 |
申请公布号 |
TWI457575 |
申请公布日期 |
2014.10.21 |
申请号 |
TW101112255 |
申请日期 |
2012.04.06 |
申请人 |
财团法人工业技术研究院 新竹县竹东镇中兴路4段195号 |
发明人 |
谢志成;叶尚府;叶凯仪 |
分类号 |
G01R31/02 |
主分类号 |
G01R31/02 |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;叶璟宗 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 |
主权项 |
一种具有自我测试的像素阵列模组,包括:一测试电路单元,提供一测试功能;多条测试讯号线,耦接至该测试电路单元;以及一像素阵列,经由该些测试讯号线耦接至该测试电路单元,并包括多个像素,各该像素包括一电晶体,具有一第一端及一第二端,其中对各该像素而言,在一正常模式下,该电晶体的一驱动讯号由其自身的该第一端传递至该第二端,以及在一测试模式下,该电晶体的一测试讯号由其自身的该第二端传递至该第一端。 |
地址 |
新竹县竹东镇中兴路4段195号 |